一、设备介绍

蔡司Xradia 515 Versa三维X射线显微镜（XRM）是先进的无损三维成像解决方案，帮助您达到全新的发现水平。前沿研究人员和科学家都依赖于蔡司Xradia Versa XRM 标志性的大工作距离高分辨率（RaaD）功能，以确保在更大的工作距离内保持最高分辨率，从而获得出色的科学见解和研究成果。蔡司Xradia Versa平台的灵活特性与强大的衬 度和4D/原位功能相结合，以满足不同的样品尺寸、类型和研究需求，该系统具有多用途特性，可快速为您的研究提供成像结果。

二、检测说明

无损X射线成像最大限度保护和扩展了长时间内贵重样品的利用率。使用蔡司Xradia 515 Versa，借助灵活的三维成像技术尽可能发挥X射线显微镜（XRM）的能力，适用于各种样品和研究环境。蔡司Xradia 515 Versa可实现0.5 µm的真实空间分辨率以及最小40 nm的体素。通过先进的吸收衬度和创新的相位衬度来克服传统CT方法的局限性，提升您对于软质或低原子序数材料样品优秀成像能力的体验。

三、结果示例